گزارش مختصر نشست‌ نقد رأی با موضوع «سوء نیت در ثبت علامت تجاری»

گزارش مختصر نشست‌ نقد رأی با موضوع «سوء نیت در ثبت علامت تجاری»

به گزارش روابط عمومی پژوهشگاه قوه قضاییه ، در ادامه سلسله جلسات تحلیل رویه قضائی پیرامون موضوعات حقوق مالکیت فکری، نشست‌ نقد رأی با موضوع «سوء نیت در ثبت علامت تجاری» توسط گروه حقوق مالکیت فکری پژوهشکده حقوق خصوصی در محل پژوهشگاه قوه قضائیه برگزار گردید.
 

در این جلسه که با حضور آقایان: دکتر سیدحسن میرحسینی، دکتر محسن اسماعیلی، رسول دوبحری بندری، احمد همتی، دکتر اصغر محمودی، حسن لجم اورک و سایر پژوهشگران برگزار گردید، موضوعات زیر با محوریت دو رأی از شعب 10 و 12 دادگاه تجدیدنظر استان تهران مورد بحث و تبادل نظر قرار گرفتند:
 

1- مقررات مربوط به سوء نیت در کنوانسیون پاریس

2- بررسی تطبیقی مقررات کشورها

3- معیارهای قضائی سنجش سوء نیت

4- سوء نیت به عنوان جهت مستقل ابطال علامت

5- رابطه سوء نیت و رقابت غیرمنصفانه

کد: 5008472

زمان انتشار: چهارشنبه 11 مهر 1397 10:00 ق.ظ

تعداد نمایش: 146

نتیجه ای برای نمایش وجود ندارد

نام

ایمیل

نظر

امتیاز

 
 

© تمامی حقوق این سایت متعلق به پژوهشگاه قوه قضاییه می باشد. ⚖